边界扫描技术

边界扫描测试有两大优点:一个是方便芯片的故障定位,迅速准确地测试两个芯片管脚的连接是否可靠,提高测试检验效率;另一个是,具有JTAG接口的芯片,内置一些预先定义好的功能模式,通过边界扫描通道来使芯片处于某个特定的功能模式,以提高系统控制的灵活性和方便系统设计。现在,所有复杂的IC 芯片几乎都具有JTAG控制接口,JTAG控制逻辑简单方便,易于实现。

 

     
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